光学透镜及镜头设计随着成像器件尺寸的增大、像元的越来越小，变得越来越复杂。最大的芯片可达 36.7mmX49.0mm ,手机芯片也达到500万像素。这些参数给光学设计和测试带来新的挑战。理想的测试设备是既能够在生产线上进行Go/No Go 测试，又可以作为一个光学质量诊断设备，而且方便使用。

干涉仪和MTF测试是传统的透镜或镜头的测试方法。干涉仪对得到表面的细节信息非常有用，但是相对较贵且不易应用到生产线上。尤其，干涉仪不能完成离轴光学测试，且只能工作在某一固定波长而无法对色差进行测试。MTF测试可以用于离轴测量，得到的测试信息主要是GO/NO GO信息，而且，由于采用了较多地移动部件进行扫描测试来寻找焦点，维护保养也是个问题。

理想的测试系统应该是既可以得到干涉仪提供的详细测试信息（泽尼克系数、点阵图、点扩散函数、MTF）,并且系统应该坚固耐用（测试结果不受震动和气流影响），又可以兼顾离轴和近轴测试，还可以灵活的进行配置以完成不同类型透镜的测试任务。此外还可以对色差进行测试,；能够适应不同环境、不同光学元件的测试需求；没有移动部件以适应生产环境的测试需要；系统紧凑、测试速度快；可以用于在线调试优化透镜系统。SpotOptics 的波前测试系统就是这样的一个系统（如图所示）

5个波前探测器，一个用于近轴光学测试，另外4个用于离轴测量，即构成一个手机相机镜头的光学质量测试系统。多针孔光源发出的光照射到手机镜头上，5个接受波前探测相机得到点阵图像。利用高质量的镜头的平行光来得到校正图像。经过软件分析，可以对镜头的质量好坏进行分类。整个测试时间不超过5秒钟。离轴测试的角度可以自定义。

• �Optimized for testing telecentric lenses, TV lenses and digital camera lenses
• 8 motorized axes fully controlled by software
• In-built calibration unit
• Can test lenses on-axis and off-axis up to ±100°
• Wavelength range: 125-1700nm (using different camers)
• Standard configuration 30 x 30 spots
• Maximum 100 x 100 spots