光學透鏡及鏡頭設計隨著成像器件尺寸的增大、像元的越來越小，變得越來越復雜。最大的芯片可達 36.7mmX49.0mm ,手機芯片也達到500萬像素。這些參數給光學設計和測試帶來新的挑戰。理想的測試設備是既能夠在生產線上進行Go/No Go 測試，又可以作為一個光學質量診斷設備，而且方便使用。

干涉儀和MTF測試是傳統的透鏡或鏡頭的測試方法。干涉儀對得到表面的細節信息非常有用，但是相對較貴且不易應用到生產線上。尤其，干涉儀不能完成離軸光學測試，且只能工作在某一固定波長而無法對色差進行測試。MTF測試可以用于離軸測量，得到的測試信息主要是GO/NO GO信息，而且，由于采用了較多地移動部件進行掃描測試來尋找焦點，維護保養也是個問題。

理想的測試系統應該是既可以得到干涉儀提供的詳細測試信息（澤尼克系數、點陣圖、點擴散函數、MTF）,并且系統應該堅固耐用（測試結果不受震動和氣流影響），又可以兼顧離軸和近軸測試，還可以靈活的進行配置以完成不同類型透鏡的測試任務。此外還可以對色差進行測試,；能夠適應不同環境、不同光學元件的測試需求；沒有移動部件以適應生產環境的測試需要；系統緊湊、測試速度快；可以用于在線調試優化透鏡系統。SpotOptics 的波前測試系統就是這樣的一個系統（如圖所示）

5個波前探測器，一個用于近軸光學測試，另外4個用于離軸測量，即構成一個手機相機鏡頭的光學質量測試系統。多針孔光源發出的光照射到手機鏡頭上，5個接受波前探測相機得到點陣圖像。利用高質量的鏡頭的平行光來得到校正圖像。經過軟件分析，可以對鏡頭的質量好壞進行分類。整個測試時間不超過5秒鐘。離軸測試的角度可以自定義。

• �Optimized for testing telecentric lenses, TV lenses and digital camera lenses
• 8 motorized axes fully controlled by software
• In-built calibration unit
• Can test lenses on-axis and off-axis up to ±100°
• Wavelength range: 125-1700nm (using different camers)
• Standard configuration 30 x 30 spots
• Maximum 100 x 100 spots