不仅仅是一个波前探测系统，更是一个完整光学综合测试系统不仅可以用于实验室光学测试，也可以适用于生产环境条件
透镜、非球面透镜 相机、手机摄像等镜头测试 棱镜 球面、非球面、平面镜 各种滤光片 隐形眼镜、眼科镜片 复杂光学系统 平视显示系统（HUD） 研磨板 晶圆（wafer) 激光
光学失常、像差测试 波前或表面重建 光学元件透过率测试 平面度测试 楔角测试 复杂光学系统对准 准直 焦长测试 MTF (调制传递函数） PSF (点扩散函数） Strehl ratio 激光光斑品质、光束、M2、发散角测试
主要型号及功能特点
产品系列
主要特点
Omi
基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理，基本型，价格优惠
Optino Uno
基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理，基本型增加一个固定的准直器，用于光源准直。具有所有光学分析所需的基本功能，包含光纤光源。
15 种针对不同测试需求的配置
无隔行快速读出 1Kx1K 相机信号
固定准直器（平行光管）
基本的夏克-哈特曼Shack-Hartmann分析功能:Zernike多项式系数、波阵面、Strehl Ratio 等.
软件根据测到的像散、球差等提供调校指令
根据软件的图形指示，依据参照标准或镜面的CCD像面，对光学元件的焦距进行实时斜率调整
图像分析功能
根据Shack-Hartmann 数据计算MTF、PSF、EE等数据（可选配置）
仿真模拟功能（可选配置）
Optino Pro 专业版
具备Optino Uno 功能外, 增加马达驱动的准直器（平行光管），以及先进的软件功能，具备高度自动化。准直器可自动寻找焦点，也可对光束进行分析。
Optino EE 工程版
具备Optino Pro 所有功能，具备更强大的软件功能，并经过优化，可以使用生产环境中使用，测试速度快。采用回馈 环路控制，并以10Hz的采样频率进行光学质量测试。
Optino+ Beam profiler 光束分析
具备Optino Pro所有功能, 另外加装第二个CCD，用于光斑形貌分析，光束失常及测量可同时在一台设备上实现。
通过使用Zygo GPI xp HR干涉仪和Spot-Optics公司的Optino 波前测试系统对一个硬盘上小面积(7mm)区域，进行测试对比。
右图白色圆圈位置的区域即为测试区域，是一个平整的表面，测试的波长为632nm,下图为主要测试得到的参数对比：
通过使用Zygo GPI xp HR干涉仪和Spot-Optics公司的Optino 波前测试系统对一个硬盘上小面积(7mm)区域，进行测试对比。
