不僅僅是一個波前探測系統，更是一個完整光學綜合測試系統不僅可以用于實驗室光學測試，也可以適用于生產環境條件
透鏡、非球面透鏡 相機、手機攝像等鏡頭測試 棱鏡 球面、非球面、平面鏡 各種濾光片 隱形眼鏡、眼科鏡片 復雜光學系統 平視顯示系統（HUD） 研磨板 晶圓（wafer) 激光
光學失常、像差測試 波前或表面重建 光學元件透過率測試 平面度測試 楔角測試 復雜光學系統對準 準直 焦長測試 MTF (調制傳遞函數） PSF (點擴散函數） Strehl ratio 激光光斑品質、光束、M2、發散角測試
主要型號及功能特點
產品系列
主要特點
Omi
基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理，基本型，價格優惠
Optino Uno
基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理，基本型增加一個固定的準直器，用于光源準直。具有所有光學分析所需的基本功能，包含光纖光源。
15 種針對不同測試需求的配置
無隔行快速讀出 1Kx1K 相機信號
固定準直器（平行光管）
基本的夏克-哈特曼Shack-Hartmann分析功能:Zernike多項式系數、波陣面、Strehl Ratio 等.
軟件根據測到的像散、球差等提供調校指令
根據軟件的圖形指示，依據參照標準或鏡面的CCD像面，對光學元件的焦距進行實時斜率調整
圖像分析功能
根據Shack-Hartmann 數據計算MTF、PSF、EE等數據（可選配置）
仿真模擬功能（可選配置）
Optino Pro 專業版
具備Optino Uno 功能外, 增加馬達驅動的準直器（平行光管），以及先進的軟件功能，具備高度自動化。準直器可自動尋找焦點，也可對光束進行分析。
Optino EE 工程版
具備Optino Pro 所有功能，具備更強大的軟件功能，并經過優化，可以使用生產環境中使用，測試速度快。采用回饋 環路控制，并以10Hz的采樣頻率進行光學質量測試。
Optino+ Beam profiler 光束分析
具備Optino Pro所有功能, 另外加裝第二個CCD，用于光斑形貌分析，光束失常及測量可同時在一臺設備上實現。
通過使用Zygo GPI xp HR干涉儀和Spot-Optics公司的Optino 波前測試系統對一個硬盤上小面積(7mm)區域，進行測試對比。
右圖白色圓圈位置的區域即為測試區域，是一個平整的表面，測試的波長為632nm,下圖為主要測試得到的參數對比：
通過使用Zygo GPI xp HR干涉儀和Spot-Optics公司的Optino 波前測試系統對一個硬盤上小面積(7mm)區域，進行測試對比。
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