離軸（Off-Axis) 光學性能檢測系統

波前分析儀

由于各種鏡頭等成像系統本身固有的像面（焦平面）彎曲特性，因此完整的評價鏡頭或其它成像系統像質，必須對離軸特性進行測量、分析。

傳統的離軸測試主要是MTF掃描測試，這種測試方法費時費力，而且重復性差，更重要的是，他只能判斷該鏡頭是否達到設計的要求，而不能指出是何種的問題導致MTF達不到要求，從而針對性的改進工藝或設計。

SpotOptics公司的離軸測試系統采用公司波前探測技術，無需掃描（5Star系列），就可快速得到不同離軸角度的MTF，而且可以給出全面的澤爾尼克像差分析，并且系統應該堅固耐用（測試結果不受震動和氣流影響），從而為優化鏡頭提供指導。

功能描述

選型指南

應用案例

概述與特性標題

動態裝調測試，像差優化過程

不同方位像高（Image Height) 分析

不同方位波前分析

選件與附件標題

系統型號	功能介紹	適用鏡頭	資料下載
5Star		同時獲得5個視場的透射波面，MTF，點陣圖，只需1秒全面Zernike像差分析，鏡頭優化裝調鏡頭或光學系統焦平面畸變評價，離軸像高測試占用空間小，測試速度快，對環境不敏感，適合產線視場角可定義，2維空間	SpotOptics_5Star.pdf
Sfera,適用于可對小型鏡頭，例如手機鏡頭進行離軸測試		Optimized for testing mobile phone camera lenses 7 motorized axes fully controlled by software In-built calibration unit Can test lenses on-axis and off-axis up to ±35° X-Y system for fine centering of test element Wavelength range: 125-1700nm (using different camers) Standard configuration 30 x 30 spots Maximum 100 x 100 spots	SpotOpticsOpal_Stella_Sfera.pdf
Stella，適用于適用于較大鏡頭的離軸測試，如遠心鏡頭、相機鏡頭、TV鏡頭等		Optimized for testing telecentric lenses, TV lenses and digital camera lenses 8 motorized axes fully controlled by software In-built calibration unit Can test lenses on-axis and off-axis up to ±100° Wavelength range: 125-1700nm (using different camers) Standard configuration 30 x 30 spots Maximum 100 x 100 spots	SpotOpticsOpal_Stella_Sfera.pdf
產線定制離軸光學優化測試系統，適用于各種光刻、單反等各種鏡頭		聯系我們	聯系我們