OL750 DSR 探測器光譜響應特性測試

給予OL750 高精度光譜儀,和 OL 高精度標準探測器,采用替代法,進行太陽能電池、各種探測器、光電系統的光譜響應特性測試,包含相對光譜、功率光譜響應、功率密度光譜響應等。

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OL 750-QE 探測器量子效率測試系統

OL 750–QE 與 OL 750 DSR不同之處是采用了獨特設計的量子效率測試附件 OL 740-71(上圖),可以實現光譜響應、鏡面反射率、內量子效率的測試。在該測試系統中,首先通過標準鏡與樣品的比對,得到探測器在該角度下的光譜反射率,再使用標準探測器與樣品比對得到絕對光譜響應特性(EQE),通過計算扣除反射的光,得到內量子效率(IQE)。

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OL 750 Solar 太陽能電池測試系統

該系統基于OL 750 QE測試系統,并針對太陽能電池產品測試要求進行了優化。適用于各種材料的太陽能電池。系統測試功能:光譜響應度、外量子效率、反射率、透射率、電流密度、IV特性、均勻性等。

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Veiling Glare測試積分球

Gooch&Housgo 開發的該6 inch 積分球專用于精確測試探測器樣品的 veiling glare 值。系統包含樣品口、光陷阱和兩個測試用照明光源。

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光學系統光譜響應測試系統

OL 750 DSR系統可以用于其它光學儀器以及光電系統系統響應特性測試,典型系統有: 光度計、色度計光譜匹配誤差測試系統 輻射度計、光度計、測距儀等系統光譜響應特性 成像系統光譜響應特性測試系統 相關資料: CCD及基于陣列探測器輻射度計的光譜響應特性測試.pdf閱讀全文

標準探測器(200nm-30um)

Optronic Laboratories 擁有40多年的專業計量經驗,提供各種最新技術的、追溯NIST的標準探測器、標準光源,為客戶在光學輻射度計量測試中保證測試精度。

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